X射线荧光分析的原理及应用

 X射【shè】线【xiàn】荧光分【fèn】析(XRF)——是对任何种类的样品进【jìn】行【háng】元素分析的好分析技术，无【wú】论必需分析的样品【pǐn】是液体、固体还【hái】是粉【fěn】末。XRF可以将高的准确【què】度【dù】和精【jīng】密度与简单【dān】和快【kuài】速【sù】的样品准备结合，对铍【pí】 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度范【fàn】围【wéi】从【cóng】 100 % 到低至亚 ppm 级。
 

　　作为一种确定各种材料【liào】化学组成的【de】一种分【fèn】析方【fāng】法，XRF的【de】被测材料【liào】可【kě】以是【shì】固体、液体、粉【fěn】末或【huò】其它形式。XRF还可测定【dìng】镀层和薄【báo】膜【mó】的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单【dān】等特点。应用范【fàn】围广泛【fàn】，涉及金属、水泥【ní】、油品、聚合【hé】物、塑料、食品以及矿【kuàng】物、地质和环境【jìng】等领域，在医药【yào】研究方面，XRF也是【shì】一【yī】种非常有用的分析方法。
 

　　X荧光【guāng】光谱仪可分为能量【liàng】色散(EDXRF)和波长色【sè】散(WDXRF)两大类，随后将详细【xì】介绍。可分析的元素及【jí】检测【cè】限主要取决于所用的光谱仪系统。EDXRF分析【xī】的元【yuán】素【sù】从Na到U； WDXRF分析的元素从【cóng】Be到U。浓度范【fàn】围从ppm到100%。通常重【chóng】元素的检测【cè】限优于轻元【yuán】素【sù】。